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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Die Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) ermöglicht die hochaufgelöste Abbildung von Objekten bis in den Sub-Nanometerbereich. Die Probe muss hierzu durchstrahlbar sein. Die Probendicke in Richtung des Elektronenstrahls soll idealerweise weniger als 100nm betragen. Nanopartikel können meist direkt ohne aufwändige Präparation mikroskopiert werden. Größere Objekte müssen hingegen durch eine geeignete Präparationsmethode, in der Regel durch Einbettung in Kunstharz und Anfertigen dünner Schnitte (30-80nm) mit Hilfe des Ultramikrotoms hierzu vorbereitet werden.

 

TEM Zeiss Libra 120

   Installation: 2006

   Auflösung: 0,3nm

   Beschleunigungsspannung: 120kV

   Austattung:

      Omega-Filter

      2x2k CCD-Kamera (TRS-Proscan)

      EDX-Detektor (EDAX)

TEM Zeiss EM902

   Installation: 1992

   Auflösung: 0,3nm

   Beschleunigungsspannung: 80kV

   Ausstattung:

      1x2k FT-CCD Kamera (Proscan)

      Energiefilter (Spiegelprisma)