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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Die Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) ermöglicht die hochaufgelöste Abbildung von Objekten bis in den Sub-Nanometerbereich. Die Probe muss hierzu durchstrahlbar sein. Die Probendicke in Richtung des Elektronenstrahls soll idealerweise weniger als 100 nm betragen. Nanopartikel können meist direkt ohne aufwändige Präparation mikroskopiert werden. Größere Objekte müssen hingegen durch eine geeignete Präparationsmethode, in der Regel durch Einbettung in Kunstharz und Anfertigen dünner Schnitte (30-80nm) mit Hilfe des Ultramikrotoms hierzu vorbereitet werden.

TEM Zeiss Libra120

Installation: 2006

Auflösung: 0,3nm

Beschleunigungsspannung: 120 kV

Austattung:

-Omega-Filter

-2x2k CCD-Kamera (TRS-Proscan)

-EDX-Detektor (EDAX)

TEM Zeiss EM902

Installation: 1992

Auflösung: 0,3nm

Beschleunigungsspannung: 80kV

Ausstattung:

-1x2k FT-CCD Kamera (Proscan)

-Energiefilter (Spiegelprisma)